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紫外可見分光光度計UV754N
| 型號： | UV754N |
是一種能適應現(xiàn)代分析實驗室運用光譜分析法對物質(zhì)進行各種定性定量分析需要的低價格、高性能的分光光度計。廣泛應用于環(huán)境保護、食品工業(yè)、石油化工、生物化學、大專院校及質(zhì)量控制等部門。
紫外可見分光光度計UV754N產(chǎn)品概述：
品牌：上海儀電分析儀器有限公司（原上海精科科學分析儀器廠）
名稱：紫外可見分光光度計
型號：UV754N
商品簡述：
是一種能適應現(xiàn)代分析實驗室運用光譜分析法對物質(zhì)進行各種定性定量分析需要的低價格、高性能的分光光度計。廣泛應用于環(huán)境保護、食品工業(yè)、石油化工、生物化學、大專院校及質(zhì)量控制等部門。
特點：
● 采用*全息閃耀光柵單色器，具有波長精度高，單色性好，雜散光低等優(yōu)點。
● 一鍵實現(xiàn)自動調(diào)零和調(diào)滿度功能。
● 嚴密的工藝及元件選擇，保證儀器測量系統(tǒng)的低漂移和低噪聲，使儀器具有超群的測量讀數(shù)重現(xiàn)性和穩(wěn)定性。
● 大屏幕字符型液晶顯示器。
● 數(shù)據(jù)打印和時間打印。
● 待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法二種濃度線性回歸運算。
● *的自動消除比色皿誤差功能。
● 配有高速熱敏打印機
● 配合軟件UVWin7使用，拓展儀器的使用功能。
● UVWin7軟件包（另購）。
主要技術指標；
● 波長范圍；200nm～1000nm
● 波長大允許誤差：±2nm
● 波長重復性：≤1nm
● 透射比大允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定）
● 透射比重復性：≤0.2%（T）
● 光譜帶寬：4nm
● 雜散光: 0.3%（T）(在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定)
● 穩(wěn)定性：暗電流漂移：≤0.2%（T）/3min 亮電流漂移：≤0.5(T)/3min
